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柴 是行; 伊藤 昭憲; 宇賀神 光弘
Journal of Nuclear Materials, 96(3), p.255 - 260, 1981/00
被引用回数:6 パーセンタイル:62.77(Materials Science, Multidisciplinary)各種(Th,U)O粉末からのXe放出量を低照射量における照射後実験法により測定した。試料のウラン濃度は0.15~20モル%の範囲であった。放出の加熱曲線の形状はすべてほぼ同様であったが、照射下放出量と1000Cまでの照射後放出量との和で表される全放出率は、通称純ThOを除き、ウラン濃度とともに増大した。雰囲気、温度、化学量論性などの調整条件の効果も同時に検討したが、その効果は小さいことがわかった。これらの実験データに基き、放出機構を議論した